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本实用新型提供了一种籽晶检测装置及籽晶检测系统，所述籽晶检测装置包括：本体以及贯穿本体的检测孔，检测孔的形状与籽晶的形状匹配，检测孔可以直接用于检测籽晶的尺寸和同轴度。通过籽晶是否可以穿设在检测孔内，或者穿设后的间隙判断籽晶是否合格。检测过...
该专利属于华坪隆基硅材料有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华坪隆基硅材料有限公司授权不得商用。

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