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本申请公开了一种集成电路测试装置，包括：测试插座，其第一表面设置有至少一个测试区域，每个测试区域设置有多个测试针，用于与待测集成电路形成通路，以测试待测集成电路的电性参数；至少一个发光元件，每个测试区域对应设置有一个发光元件，且发光元件发出...
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