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多波长分光光度计制造技术
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文档序号:2551702
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从光源射出的光被光栅散射.用两个多通道光检测器来检测被散射的光.在相互重叠的波长范围内,用一个光检测器检测第一干涉级次,用另一个光检测器检测第二干涉级次.对两个光检测器的输出进行平均值运算以改进信号/噪声比,特别是在光源的发光强度较低的波长...
该专利属于株式会社日立制作所所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社日立制作所授权不得商用。
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