多波长分光光度计制造技术

从光源射出的光被光栅散射．用两个多通道光检测器来检测被散射的光．在相互重叠的波长范围内，用一个光检测器检测第一干涉级次，用另一个光检测器检测第二干涉级次．对两个光检测器的输出进行平均值运算以改进信号／噪声比，特别是在光源的发光强度较低的波长范围内．（*该技术在2005年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种多波长分光光度计，具体地说是用于液相色层分析，更具体地说是涉及一种能够同时监测光谱的各波长的多波长分光光度计。在各种多波长分光光度计中，灵敏度或者信号噪声比(S/N)比单波长分光光度计的灵敏度或信噪比要差，因为用于多波长分光光度计中由光电二极管矩阵组成的多通道光探测器的灵敏度要劣于用在单波长分光光度计中由单个光电二极管或光电倍增管构成的单通道光探测器的灵敏度，这是由于在多通道光探测器的光电二极管阵中，各相邻光电二极管之间的分界面缺陷造成的。多波长分光光度计的信号/噪声比在光源发光强度低的波长范围内是相当低的。某些公知的多波长分光光度计，例如在1983年7月的《分析化学》第55卷第八册第836A页，第838A和第842A页中所提到的那种多波长分光光度计，是采用如下解决方法以减少这一缺陷。一种已知的分光光度计分别连续使用二种光源，例如分别在紫外波长范围内使用灯(D2lamp)而在可见波长范围内使用钨灯(Wlamp)。这种分光光度计是相当昂贵的而且工作时十分缓慢，因为不同的波长无法同时测到，而只能依次测量。另一种已知使用灯的分光光度计用数据处理方法来减少可见波长范围的信号/本文档来自技高网...

【技术保护点】
多波长分光光度计，特别是用于液体色层分析，包括光源（１），采样盒（３），用于对从所说的光源（１）射出的光束进行散射的光栅（５）和用于在第一波长范围内检测被所说的光栅（５）所散射的光的第一多通道光检测器器，其特征在于利用第二个多通道光检测器（７）在第二波长范围内检测被所说的光栅（５）所散射的光，第二波长范围与所说的第一波长范围至少部分重叠，如上所述的由上述第二多通道光检测器检测到的光与所说的第一多通道光检测器（６）所检测到的上述的光具有不同的干涉级次，利用处理器（８）来平均所说的第一和第二光检测器（６，７）的每一个输出信号。

【技术特征摘要】
1.多波长分光光度计，特别是用于液体色层分析，包括光源(1)，采样盒(3)，用于对从所说的光源(1)射出的光束进行散射的光栅(5)和用于在第一波长范围内检测被所说的光栅(5)所散射的光的第一多通道光检测器器，其特征在于利用第二个多通道光检测器(7)在第二波长范围内检测被所说的光栅(5)所散射的光，第二波长范围与所说的第一波长范围至少部分重叠，如上所述的由上述第二多通道光检测器检测到的光与所说的第一多通道光检测器(6)所检测到的上述的光具有不同的干涉级次，利用处理器(8)来平均所说的第一和第二光检测器(6，7)的每一个输出信号。2.如权项1中所述的分光光度计，其特征在于所说的第二光检测器(7)是用于在所说的光源(1)的发光强度较低的波长范围内检测光。3.如权项1或2中所述的分光光度计，其特征在于所说的第一光检测器(6)检测第一干涉级，第二光检测器(7)检测第二干涉级。4.权项1到3中任一权项所述的分光光度计，其特征在于所说的光源(1)是一个灯(deuterium lamp)，所说的第一光检测器(6)检测紫外和可见光波长范围的第一干...

【专利技术属性】
技术研发人员：野上太郎，
申请(专利权)人：株式会社日立制作所，
类型：发明
国别省市：JP[日本]