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提供一种辐射测量装置，用于确定来自辐射源的辐射的波长相关的特性。所述辐射测量装置包括波长相关的光学元件（例如带通滤光器），以及光学功率测量检测器（例如光检测器）。至少一个光束入射到沿着所述装置的光路设置的偏振敏感的反射与／或透射表面上，被所...
该专利属于株式会社米姿托约所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社米姿托约授权不得商用。

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