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本发明涉及一种提取相干梯度敏感干涉条纹级数的方法及其装置，属于断裂力学参量测量的技术领域。首先将加载试件出射的平行光束分为两路光线，分别产生相干梯度敏感干涉条纹；在两幅相干梯度敏感干涉条纹图中减去相应背景光强，并对其进行直方图变换，使两幅图...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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