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本发明题为“具有风化检测像素的成像系统”。本发明提供了一种成像设备，该成像设备可具有图像传感器像素阵列。该图像传感器像素阵列可具有与光学叠堆重叠的主要像素和参考像素。该参考像素可比该主要像素更耐受风化诸如太阳光退化。例如，与主要像素重叠的光...
该专利属于半导体元件工业有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过半导体元件工业有限责任公司授权不得商用。

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