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本发明公开了一种三极管封装金属帽表面凹凸缺陷的检测方法，包括以下步骤：步骤一：利用激光传感器测得激光传感器到三极管封装金属帽的实际距离...
该专利属于湘潭市锦程半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过湘潭市锦程半导体科技有限公司授权不得商用。

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