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一种大功率芯片封装测试器件制造技术
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文档序号:25457901
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本实用新型公开了一种大功率芯片封装测试器件,包括测试爪端、弹片和固定台,所述弹片包括横向弹片和竖向弹片,所述横向弹片一端与固定台连接,另一端与竖向弹片一体化连接,横向弹片和竖向弹片连接处竖向平面的夹角为91°‑95°,竖向弹片的底端与测试爪...
该专利属于成都冶恒电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过成都冶恒电子有限公司授权不得商用。
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