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本实用新型公开了一种半导体芯片分选测试用减震装置，包括测试机，测试机的底部设置有支撑台，支撑台的顶部通过螺栓固定有四个减震器，减震器包括空筒，空筒的内部设置有贯穿空筒的减震杆，减震杆的顶部和空筒的底部均焊接有固定块，且减震杆的外壁套接有减震...
该专利属于河南逸云国芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过河南逸云国芯科技有限公司授权不得商用。

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