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本发明公开了集成电路的漏电测试方法，包括如下步骤：S1：选取多个检测构件，将多个检测构件呈矩阵状排列；S2：将多个检测构件的接触端和待测集成电路上的待测点接触；S3：将检测构件的另一端通过导线接地，在检测构件的检测端和接地端之间设置检测电阻...
该专利属于上海岱矽集成电路有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海岱矽集成电路有限公司授权不得商用。

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