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本申请公开了一种测量系统，配置为与处理设备集成，处理设备用于对结构进行光学测量，测量系统包括：支撑组件，用于将处于测量中的结构保持在测量平面中；支架组件；限定照明和收集光通道的光学系统；光学系统包括光源、检测器和光学头；其中，支架组件被配置...
该专利属于诺威量测设备股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过诺威量测设备股份有限公司授权不得商用。

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