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本发明涉及一种应用于Wi‑Fi 5芯片的无线性能测试系统及方法，属于无线局域网性能测试领域，解决了现有的测试系统或方法由于代码逻辑耦合度高导致无法支持多个被测芯片的同时测试和升级迭代周期长造成的测试效率低的问题。所述测试系统用于分别与多个待...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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