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本发明属于微光学元件高精度检测技术领域，具体涉及一种微光学元件透射相位的检测方法。为解决微光学元件透射相位信息的高精度检测问题。本发明采用的方法首先通过软件程序设计出微光学元件理想全息图，加载在空间光调制器上，通过计算机进行调制，将调制后的...
该专利属于西安工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安工业大学授权不得商用。

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