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本发明公开了一种芯片发光性能测试设备、上料机构和芯片固定装置，后者包括：芯片载板，其安装面上开设有若干芯片放置位，待测试芯片一一对应地放置于所述芯片放置位、并分别与所述芯片载板电连接；冷却结构固定安装于所述芯片载板远离所述安装面的一侧，并用...
该专利属于天津市菲莱科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津市菲莱科技有限公司授权不得商用。

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