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本实用新型公开了一种探针及测试装置，用以测试一芯片，其中该探针设置于一测试座的一安装孔中，该探针呈薄片状并以导电材质制成，且包含一基部、一缓冲部及一接触部。该基部是位于该安装孔内且卡合于该测试座上，该缓冲部是位于该安装孔内且由该基部一体向外...
该专利属于吴俊杰所有，仅供学习研究参考，未经过吴俊杰授权不得商用。

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