温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种版图特征提取的超参数确定方法、装置及介质，方法包括：按照初始尺寸的采样窗口分别对版图上的N个样本点进行采样，对应获得N幅版图切片，N个样本点对应有N组属性参数；根据单像素物理尺寸分别对所述N幅版图切片进行特征提取，以转化为N...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。