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基于物方投影几何约束的线阵推扫式影像最佳扫描线搜索方法技术
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下载基于物方投影几何约束的线阵推扫式影像最佳扫描线搜索方法的技术资料
文档序号:2520455
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基于物方投影几何约束的线阵推扫式影像最佳扫描线搜索方法:将CCD线阵传感器分段,对每段用一条直线表示,每段CCD探元在扫描成像时,与扫描线投影中心分别形成一个扫描行中心投影面;估算线阵推扫式影像物方平均高程投影面坐标系到影像扫描坐标系的6个...
该专利属于武汉大学所有,仅供学习研究参考,未经过武汉大学授权不得商用。
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