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本实用新型是一种线位移光栅数显测量仪。属于对大量程光栅数显测量仪的改进，特别是对其测量长度给以任意扩展。其特征在于以单根短标尺光栅测量长的或是超长的线位移，选择标尺光栅运动，采用多个读数头递推互锁读数。本实用新型较好地解决了增大光栅位移数显...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。

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