温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明属于数控加工相关技术领域，并公开了一种基于双代码联合作用的样条轨迹控制指令优化方法。该方法包括下列步骤：(a)设定待加工对象的理想加工轨迹，根据设定的理想加工轨迹生成G代码；(b)绘制G代码对应的加工轨迹，以此获得实际加工轨迹，将该实...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。