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本发明用于材料厚度的无接触在线测量，由放射源、探测器和二次仪表构成。其二次仪表包括静电计，双积分式比值对数Ａ／Ｄ变换器，时间常数调整电路和Ｖ－［０］保持电路，Ｖ－［０］为材料厚度为０时静电计的输出电压。由于引入了双积分比值对数Ａ／Ｄ变换器，...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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