温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

根据现有技术，在镀膜处理期间确定膜层厚度花费很大。其中，为了检查膜层厚度，必须切割参考样本并由此破坏参考样本。只有当参考样本具有所期望的膜层厚度时，才能采用与参考样本一起镀膜的元件。按照本发明的一种用于确定膜层厚度的方法允许在镀膜处理期间就...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。