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按照本发明的一个方面，提供测量物体（１２）形状的系统（１０）。所述系统包括投影系统（１４），用于将具有干涉条纹参考标记的干涉条纹图投影到物体（１２）上。所述系统还包括图像处理系统（２６），用于捕获由物体（１２）所调制的干涉条纹图的图像（２０...
该专利属于通用电气公司所有，仅供学习研究参考，未经过通用电气公司授权不得商用。

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