【技术实现步骤摘要】
本专利技术一般涉及光学计量，更具体地说，涉及利用编码的干涉条纹图的三维形状测量技术。
技术介绍
计量是测量的科学，是制造过程的重要方面。三维物体的非接触式测量是计量学中的重要方面，光学方法在此领域起着重要的作用。光学三维形状测量技术大致可分为两类技术扫描技术和非扫描技术。扫描技术的一个实例就是激光雷达。在此技术中，激光雷达通过用激光束扫描物体表面来检测物体的形状。用物体反射的光来创建物体模型。扫描方法，例如激光雷达，一般都很费时，因为它们需要进行一维或二维扫描来覆盖物体的整个表面。测量三维表面的非扫描式技术通常比扫描技术要快些。而且，检索三维轮廓信息的图像处理也比较简单易懂。非扫描技术的一个实例是干涉条纹投影方法。干涉条纹投影方法是通过将干涉条纹图投影到待测物体上来进行三维形状测量的一种方法。摄像机，或其它图像检测装置，捕获已调制的干涉条纹图，即，来自物体表面的投影的干涉条纹图的图像。然后对这些图像进行处理，以便构建物体的三维形状。干涉条纹投影方法可用于大物体(一次测量中为数米大小)和小物体(微米大小)。相移技术可以和干涉条纹检测技术一起使用。相移技术的一些优...
【技术保护点】
一种三维形状测量系统（１０），所述系统包括：投影系统（１４），用以将具有参考标记的干涉条纹图（１８）投影到物体（１２）上；图像处理系统（２６），用以捕获由所述三维物体（１２）调制的所述干涉条纹图（１８）的图像，其中所述图像处 理系统（２６）可以用于识别由所述三维物体（１２）调制的所述干涉条纹图（１８）的所述图像中的所述参考标记，并利用所述参考标记作为参考点来建立坐标系，以重构所述三维物体（１２）的形状。
【技术特征摘要】
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