专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
齐戈股份有限公司
>
使用扫描干涉测量形成复杂表面结构的轮廓以及对其表征制造技术
>技术资料下载
下载使用扫描干涉测量形成复杂表面结构的轮廓以及对其表征的技术资料
文档序号:2509228
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种方法,其包括:将可从用于测试对象的第一表面位置的扫描干涉测量信号导出的信息和与测试对象的多个模型相对应的信息相比较,其中,通过一系列用于测试对象的特性而将所述多个模型参数化。与多个模型相对应的信息可包括:与每个测试对象的模型相对应的、有...
该专利属于齐戈股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过齐戈股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。