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本发明公开了一种检测半导体导电性能的设备，其结构包括检测箱、滑动门、控制面板、显示屏，检测箱包括导向带、导板、定位装置、检测装置，导板右侧包括支撑杆、限制辊、隔离板、橡胶空气弹簧，定位装置包括滑轨、定位板、电磁块、支撑筒、转杆，电磁块包括固...
该专利属于陕西哈斯福商贸有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过陕西哈斯福商贸有限公司授权不得商用。

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