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本发明涉及阵列天线波束赋形快速测试装置及其测试方法，该装置包括控制单元以及与阵列天线连接的检测单元，检测单元包括天线、信号处理子单元以及功率检测子单元，天线与信号处理子单元连接，信号处理子单元与功率检测子单元连接，功率检测子单元以及阵列天线...
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