阵列天线波束赋形快速测试装置及其测试方法制造方法及图纸

技术编号:25001607 阅读:33 留言:0更新日期:2020-07-24 18:02
本发明专利技术涉及阵列天线波束赋形快速测试装置及其测试方法,该装置包括控制单元以及与阵列天线连接的检测单元,检测单元包括天线、信号处理子单元以及功率检测子单元,天线与信号处理子单元连接,信号处理子单元与功率检测子单元连接,功率检测子单元以及阵列天线分别与控制单元连接。本发明专利技术通过设置控制单元以及与阵列天线连接的检测单元,利用天线接收来自阵列天线发出的信号,并传输至信号处理子单元进行信号的放大处理,功率检测子单元检测经过信号处理子单元后的信号强度,并由控制单元读取所有的功率检测子单元所检测到的信号强度,并进行对应的判断和分析,实现快速测试其波束赋形功能是否符合要求,操作简单,成本低。

【技术实现步骤摘要】
阵列天线波束赋形快速测试装置及其测试方法
本专利技术涉及无线通信,更具体地说是指阵列天线波束赋形快速测试装置及其测试方法。
技术介绍
第五代移动通信系统已经正式商用,在5G毫米波频段,有源阵列天线将会大规模应用,从高阶MIMO(多进多出,multiple-inmultiple-out)到大规模阵列的发展,将有望实现频谱效率提升数十倍甚至更高,是目前5G技术重要的方向之一。由于引入了有源天线阵列,5G设备支持的天线数量将高达256个,此外,原来的2D天线阵列拓展成为3D天线阵列,形成新颖的3D-MIMO技术,支持多用户波束赋形,减少用户间干扰,结合高频段毫米波技术,将进一步改善无线信号覆盖性能。在使用天线之前,需要对于天线的波束赋形进行测试,目前测试天线主要采用传统OTA(空中下载技术,OverTheAir)测试,OTA测试虽然测试结果精确,但是操作复杂,用时长,场地要求高,需要微波暗室,一个微波暗室同一时间只能测试一副天线,微波暗室造价极高,造成测试成本高。因此,有必要设计一种新的装置,实现快速测试其波束赋形功能是否符合要求,操本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.阵列天线波束赋形快速测试装置,其特征在于,包括控制单元以及与阵列天线连接的检测单元,所述检测单元包括天线、信号处理子单元以及功率检测子单元,所述天线与所述信号处理子单元连接,所述信号处理子单元与所述功率检测子单元连接,所述功率检测子单元以及所述阵列天线分别与所述控制单元连接。/n

【技术特征摘要】
1.阵列天线波束赋形快速测试装置,其特征在于,包括控制单元以及与阵列天线连接的检测单元,所述检测单元包括天线、信号处理子单元以及功率检测子单元,所述天线与所述信号处理子单元连接,所述信号处理子单元与所述功率检测子单元连接,所述功率检测子单元以及所述阵列天线分别与所述控制单元连接。


2.根据权利要求1所述的阵列天线波束赋形快速测试装置,其特征在于,还包括连接板,所述连接板上设有若干个通孔,所述天线连接于所述连接板的下端,所述信号处理子单元以及所述功率检测子单元分别连接于所述连接板的上端,且所述天线的上端穿过所述通孔,所述天线的上端与所述信号处理子单元连接。


3.根据权利要求2所述的阵列天线波束赋形快速测试装置,其特征在于,所述信号处理子单元包括信号放大器。


4.根据权利要求3所述的阵列天线波束赋形快速测试装置,其特征在于,所述功率检测子单元包括功率检测器。


5.根据权利要求4所述的阵列天线波束赋形快速测试装置,其特征在于,所述天线为毫米波微带天线。


6.根据权利要求5所述的阵列天线波束赋形快速测试装置,其特征在于,所述阵列天线包括PCB板、被测天线、射频单元以及基带单元,所述被测天线连接于所述PCB板的上端,所述射频单元连接于所述PCB板的下端,所述基带单元分别与所述射频单元以及所述控制单元连接,所述天线与所述被测天线对齐布置。

【专利技术属性】
技术研发人员:王东林赵栋
申请(专利权)人:广州通则康威智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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