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一种降低高速开关对地寄生电容的制造方法技术
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文档序号:24999944
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本发明公开了一种降低高速开关对地寄生电容的制造方法,包括:S1、形成MOS开关管的N型埋层、深N阱和有源区以标准化N阱和P阱的注入和扩散;S2、淀积第一薄膜于深N阱外做为深沟槽的硬掩模,涂覆光刻胶于第一薄膜进行深沟槽图形光刻后,以形成深沟槽...
该专利属于帝奥微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过帝奥微电子有限公司授权不得商用。
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