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一种半导体器件隔离环的制造方法及半导体器件技术
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文档序号:24999942
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本申请实施例公开一种半导体器件隔离环的制造方法,所述方法包括:提供第一半导体衬底,所述第一半导体衬底具有正面和背面;在所述正面上形成第一电路元件;从所述背面形成贯穿所述第一半导体衬底的导电通孔,所述导电通孔用于与所述第一电路元件导电互连;在...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。
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