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本发明涉及一种集成电路图像匹配方法及系统。一种集成电路图像匹配方法，其特征在于，所述的图像匹配方法包括：构造集成电路版图微观图像的检测算子；基于所述检测算子将所述集成电路版图微观图像的特征点与所述集成电路设计版图的特征点进行比较，以得到匹配...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))授权不得商用。