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本发明涉及一种基于FPGA的高速DDR4单粒子效应评估系统及方法，其包括：待测DDR4、高能辐照实验终端或脉冲激光辐照平台和单粒子测试系统；待测DDR4有源区处于高能辐照实验终端或脉冲激光辐照平台的中心位置，待测DDR4与单粒子测试系统实时...
该专利属于中国科学院近代物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院近代物理研究所授权不得商用。

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