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本发明公开了一种检测晶体学结构中的异常的方法，所述方法包括：在相对于所述晶体学取向的已知方向上利用x射线辐射对所述结构进行照明；对所述结构进行定位使得所述结构的晶体学取向是已知的；对透射穿过所述结构的衍射的所述x射线辐射的图案进行检测；基于...
该专利属于劳斯莱斯有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过劳斯莱斯有限公司授权不得商用。

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