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本申请公开了一种EL制程中面板的混色检测方法及装置。该混色检测方法包括：检测面板的第一区域的CIE坐标和第二区域的CIE坐标，其中，第一区域位于面板的发光面的中心，第二区域位于发光面且与第一区域互不重叠；计算第二区域的CIE坐标与第一区域的...
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