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本实用新型属于成像设备技术领域，公开了一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置，包括至少一个接受模拟信号的天线阵列；与天线阵列相连接，用于对天线接收的信号进行AD数据采集的采样装置；与采样装置相连接，通过傅里叶反演计算的处理装置。本实用...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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