一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于成像设备技术领域，公开了一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置，包括至少一个接受模拟信号的天线阵列；与天线阵列相连接，用于对天线接收的信号进行AD数据采集的采样装置；与采样装置相连接，通过傅里叶反演计算的处理装置。本实用新型专利技术针对传统综合孔径辐射计通道过多，系统复杂，成本较高等问题，提出基于延时相关技术的二维综合孔径成像装置，该装置充分利用利用辐射信号不相关的特点，将各个天线接收的模拟信号延时、相加后输入一个通道，经过AD采样、自相关、傅里叶反演等处理最终获得亮温图像。

【技术实现步骤摘要】
一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置
本技术属于成像设备
，尤其涉及一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置。
技术介绍
目前，业内常用的现有技术是这样的：突发性气象灾害已经对人类的生产生活造成日益严重的危害，而在全球和区域范围内对大气温度湿度三维分析的预报都是通过气象卫星上的遥感载荷对大气探测来实现，因此发展静止轨道气象卫星微波载荷及时预测突发性气象灾害是迫切的需求。实孔径微波辐射计因其难以实现星上大孔径扫描微波天线而无法满足测量要求，空间分辨率低成为地球静止轨道气象卫星上实现微波载荷的主要技术障碍。为了提高地球静止轨道气象卫星微波大气探测的空间分辨率，综合孔径微波辐射计的研究被提出并形成一系列的成果。传统综合孔径微波辐射计就是利用稀疏天线阵列和复相关接收，将阵列的单元天线成对组成许多具有不同基线的二元干涉仪，测量空间频率域的可见度函数采样，然后通过校正和反演算法得到场景亮温图像。其核心就是获取不同基线长度的可见度函数，以最基础的二元干涉仪来解释其原理。二元干涉仪如图1所示，将两路接受通道的输出信号直接相关，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置，其特征在于，所述基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置包括至少一个接受模拟信号的天线阵列；/n与天线阵列相连接，用于对天线接收的信号进行AD数据采集的采样装置；/n与采样装置相连接，通过傅里叶反演计算的处理装置。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置，其特征在于，所述基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置包括至少一个接受模拟信号的天线阵列；
与天线阵列相连接，用于对天线接收的信号进行AD数据采集的采样装置；
与采样装置相连接，通过傅里叶反演计算的处理装置。


2.如权利要求1所述的基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像装置，其特征在于，所述天线阵列还连接有对安装位置进行检测的定位装置；
与定位装置相连...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄全亮，李青侠，邓威，杨雪清，刘道敏，于华鉴，王凡，陶凯立，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：新型
国别省市：湖北;42