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用故障使能生成电路测试存储器安全逻辑电路内的比较器制造技术
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文档序号:24891392
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本公开的各实施例涉及用故障使能生成电路测试存储器安全逻辑电路内的比较器。解码器,对存储器地址进行解码并选择性地驱动存储器的选择线(诸如字线或mux线)。解码电路,对选择线上的数据进行编码以生成编码地址。编码地址和存储器地址由比较电路进行比较...
该专利属于意法半导体国际有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过意法半导体国际有限公司授权不得商用。
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