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本实用新型公开了一种DRAM测试系统，包括：主控系统、第一FPGA系统、第一连接器、第二连接器及两个级联连接器。其中第一FPGA系统与所述主控系统连接，用于执行DRAM测试动作。第一连接器与所述第一FPGA系统连接，用于连接被测DRAM。第...
该专利属于珠海欧比特宇航科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海欧比特宇航科技股份有限公司授权不得商用。

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