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本实用新型涉及检测设备技术领域，尤其是指一种测厚仪，包括机座、上测厚机构、下测厚机构、上位移测量器及测厚驱动机构，上测厚机构设置有上探头，下测厚机构设置有与上探头同轴设置的下探头，上探头与下探头配合以对物料的厚度进行测量，机座的顶部装设有上...
该专利属于东莞市超业精密设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东莞市超业精密设备有限公司授权不得商用。

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