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本申请公开了沟槽栅MOSFET功率半导体器件及其多晶硅填充方法和制造方法。该填充方法包括:在半导体衬底上的外延层中形成沟槽;在所述外延层表面和沟槽中形成绝缘层,所述绝缘层围绕沟槽形成空腔;在所述外延层表面和所述空腔中形成第i多晶硅层;对所述...该专利属于杭州士兰微电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州士兰微电子股份有限公司授权不得商用。
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本申请公开了沟槽栅MOSFET功率半导体器件及其多晶硅填充方法和制造方法。该填充方法包括:在半导体衬底上的外延层中形成沟槽;在所述外延层表面和沟槽中形成绝缘层,所述绝缘层围绕沟槽形成空腔;在所述外延层表面和所述空腔中形成第i多晶硅层;对所述...