温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型提供一种半导体测试探针，包括探针本体，所述探针本体包括第一探针头和第二探针头，所述第一探针头外壁设有第一凸台，第二探针头外壁设有第二凸台，还包括弹簧，所述弹簧一端与第一探针头装配且与第一凸台抵接，弹簧另一端与第二探针头装配且与第二...
该专利属于袁勃然所有，仅供学习研究参考，未经过袁勃然授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。