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本发明涉及一种实现芯片测试的系统，包括模拟IP模块，用于进行模拟IP测试；数字模块，与所述的模拟IP模块相连接，用于进行内部通信信号的测试；输入输出单元库，与所述的数组模块相连接，用于封装连接线；测试模块，与所述的模拟IP模块、数字模块和输...
该专利属于无锡华润矽科微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡华润矽科微电子有限公司授权不得商用。

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