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本发明提供分析装置、分析方法和存储介质。基于与测量对象中包含的碳化合物的量相关的信息，准确地修正与荧光X射线相关的信息。分析装置(100)包括：X射线测量装置(2)、光学特性测量装置(3)和运算部(4)。X射线测量装置(2)检测从测量对象产...
该专利属于株式会社堀场制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社堀场制作所授权不得商用。

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