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本发明涉及一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法，至少包括如下步骤：配置放射源和探测器，在所述放射源和所述探测器之间设置用于放置待检测样品的空样品盒，使得放射源产生的放射性射线能够按照沿设定方向传输的方式进入所述探测器，并促使所述探测器生成...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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