【技术实现步骤摘要】
一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法及装置
本专利技术属于质量衰减测量
，尤其涉及一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法及装置。
技术介绍
当X(或γ)射线穿过物质时，由于与介质粒子的各种相互作用(光电效应、康普顿效应、电子对效应、相干闪射、光致核反应、核共振效应等)，X(或γ)射线会有一定几率与吸收物质发生相互作用而被吸收，或发生散射而后能量改变并偏离原来的入射方向。没有发生相互作用的光子穿过吸收层，能量保持不变。因此γ射线穿过物质时，强度逐渐衰减。为表征X(或γ)射线穿过物质后被衰减的程度，引入质量衰减系数(亦称质量吸收系数)。质量衰减系数定义为每平方厘米每克厚的吸收物质(g/cm2)，所减少的X(或γ)射线强度的百分数，单位是cm2/g。许多科学、工程和医疗应用中都需要使用到质量衰减系数，例如γ谱仪基质样品的自吸收修正。γ谱仪样品自吸收修正方法可分为半经验公式计算方法，解析公式计算方法和MonteCarlo模拟方法，所有修正方法均需要知道材料的质量衰减系数。当基质样品成分已知时，可通过光子截面数据库(X...
【技术保护点】
1.一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法，至少包括如下步骤：/n配置放射源(12)和探测器(11)，在所述放射源(12)和所述探测器(11)之间设置用于放置待检测样品的空样品盒，使得放射源(12)产生的放射性射线能够按照沿设定方向传输的方式进入所述探测器(11)，并促使所述探测器(11)生成第一数据，/n其特征在于，/n所述质量衰减测量方法还包括如下步骤：/n在所述放射源(12)和所述探测器(11)之间设置待检测样品，使得放射源(12)产生的放射性射线在沿所述设定方向传输时，能够按照穿透所述待检测样品的方式进入所述探测器(11)，并促使所述探测器(11)生成第二数据；/n...
【技术特征摘要】
1.一种基于γ射线全能峰的质量衰减测量方法，至少包括如下步骤：
配置放射源(12)和探测器(11)，在所述放射源(12)和所述探测器(11)之间设置用于放置待检测样品的空样品盒，使得放射源(12)产生的放射性射线能够按照沿设定方向传输的方式进入所述探测器(11)，并促使所述探测器(11)生成第一数据，
其特征在于，
所述质量衰减测量方法还包括如下步骤：
在所述放射源(12)和所述探测器(11)之间设置待检测样品，使得放射源(12)产生的放射性射线在沿所述设定方向传输时，能够按照穿透所述待检测样品的方式进入所述探测器(11)，并促使所述探测器(11)生成第二数据；
基于所述第一数据获取第一计数率n1(E)，基于所述第二数据获取第二计数率n2(E)，使得待检测样品对放射源(12)的质量衰减系数μm(E)能够通过公式进行表示，其中h为待检测样品的厚度。
2.根据权利要求1所述的质量衰减测量方法，其特征在于，所述第一计数率n1(E)或所述第二计数率n2(E)的确定至少包括如下步骤：
基于所述探测器(11)采集的第一数据或所述第二数据获取放射源(12)的γ能谱，并计算对应峰位的计数率，其中，所述计数率ni(E)能够通过公式进行确定，Ni(E)表示全能峰净峰面积。
3.根据权利要求2所述的质量衰减测量方法，其特征在于，全能峰净峰面积Ni(E)的确定至少包括如下步骤：
在全能峰为独立单峰的情况下，全能峰净峰面积Ni(E)能够通过公式Ni(E)＝NTi(E)-Bi(E)进行表示，其中，NTi(E)表示全能峰总峰面积，Bi(E)为峰位本底面积。
4.根据权利要求3所述的质量衰减测量方法，其特征在于，全能峰净峰面积Ni(E)的确定还包括如下步骤：
在全能峰为叠加峰的情况下，对全能峰的峰形采用高斯函数G(E)＝G·进行简化描述，其中，G表示峰高度，E0表示峰中心道址能量，σ表示标准偏差；
基于拟合得到叠加峰中每个高斯峰的拟合参数，使得每个高斯峰的峰面积能够通过公式进行表示。
5.根据权利要求4所述的质量衰减测量方法，其特征在于，全能峰总峰面积NTi(E)能够基于道数相加的方式确定，其中：
在选定的峰位位于L道和H道之间的情况下，全能峰总峰面积NTi(E)能够通过公式其中，Cj表示j道的计数。
6.根据权利要求5所述的质量衰减测量...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘皓然，李则书，梁珺成，邱向平，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11
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