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本发明公开了一种芯片中心点的测量方法，包括：识别感光芯片中未被遮挡的第一顶角和第二顶角以及第一顶角和第二顶角在感光芯片中的位置，并定位第一顶角和第二顶角的坐标；接收输入的感光芯片的尺寸；根据感光芯片的尺寸、第一顶角的坐标以及第二顶角的坐标，...
该专利属于昆山丘钛微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山丘钛微电子科技有限公司授权不得商用。

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