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本实用新型涉及技术领域，提供一种JTAG边界扫描测试电路，包括由JTAG控制器、CPLD、CPU和外围设备组成的环形串接链路，该JTAG控制器、CPLD、CPU、外围设备之间依次连接，其还包括设置在CPLD和CPU之间线路上且当进行BSCA...
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