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化学机械抛光组合物制造技术
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文档序号:24722562
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本发明主题涉及一种化学机械抛光(CMP)组合物,其包含无机粒子、包含氨基和/或至少一个酸基(Y)的至少一种有机化合物、过硫酸钾、至少一种腐蚀抑制剂及水性介质,其用于抛光半导体工业的基材,该基材包含钴和/或钴合金及TiN和/或TaN。...
该专利属于巴斯夫欧洲公司所有,仅供学习研究参考,未经过巴斯夫欧洲公司授权不得商用。
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