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半导体多站处理腔体制造技术
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文档序号:24713068
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本发明揭露一种半导体多站处理腔体,其中每一站包含:由多个壁所定义的一下沉空间,其提供有用于支撑基板或晶圆的一支撑座,该支撑座与定义该下沉空间的多个内壁之间形成一第一间隙;一覆盖组件,固定于一盖体且位于该支撑座的上方以定义一处理区,该覆盖组件...
该专利属于沈阳拓荆科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过沈阳拓荆科技有限公司授权不得商用。
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