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本发明涉及米粉加工技术领域，公开了一种基于米粉制品品质范围获取原料品质范围的方法及装置，所述方法包括：获取米粉品质调研数据和米粉品质研究数据，确定大米样本集和米粉样本集并进行预处理，获得处理后的目标数据，基于目标数据对米粉品质指标进行预测，...
该专利属于武汉轻工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉轻工大学授权不得商用。

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